Учени от Корнелския университет в САЩ получиха снимка на атоми с рекордно висока разделителна способност на електронен микроскоп, пише сп. "Сайънс".

Досега електронната птихография се прилагаше само на свръхтънки образци, по-малки от няколко нанометра. А изображенията на по-дебелите от тях се оказваха същите като тези, получавани с помощта на традиционните средства. При все това не всички обемни материали подлежат на разрязване на такива тънки пластове.

В новата си разработка американските изследователите са успели да получат изображения на образци на кристала PrScO3 с дебелина 0,8-30 нанометра при резолюция по-малка от 20 пикометра, което е ограничено единствено от топлинното движение на самите атоми.

Изследователите са приложили метода на многосрезната електронна птихография. Относително дебелите образци е било възможно да бъдат разгледани като множество тънки срезове,следващи един след друг. Алгоритмите моделират разсейването на електроните от всеки срез. След това следва разпространение на свободните частици в свободното пространство до следващия срез.

Изображението се генерира , когато от дифракционната картина се извежда информация за разположението на атомите в образеца.

Както пишат авторите с помощта на този метод е възможно да се откриват атомните примеси със субнанометрова точност във всичките три измерения, а не само при две, както беше възможно по-рано.

Методът на птихографията се състои в генерирането на изображения на даден обект с помощта на компютърна обработката на множество интерферентни картини, получени при разсейването на светлината на образеца. Той от своя страна се придвижва на определено разстояние, за да може да възникнат прикриващите области, към които се насочва сноп електрони или лъч светлина.

Подобна микроскопия избягва аберацията, причинена от лещите и многократното разсейване, с което се понижава от 3 до 5 пъти резолюцията на изображението.